专注于晶圆测试探针卡研发制造

高同测 高速 高频 测试探针卡

High Parallel  High Speed High Frequency Probe Cards

 

 

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参数测试Parametric WAT MEMS 探针卡

 盛华提供优质晶圆参数测试探针卡 Parametric WAT MEMS Probe Card
  •  中高温 测试
  •  0.2pA/5V 超低LK控制
  •  稳定CAP值控制
  • 采用 MEMS工艺架构