专注于晶圆测试探针卡研发制造

高同测 高速 高频 测试探针卡

High Parallel  High Speed High Frequency Probe Cards

 

 

ATE测试板

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盛华ATE测试板制程能力

专业制造: ATE测试板,探针卡板,老化板等半导体测试接口板

Max. Board Thickness (mm)

6.3

Min. Drilled Via Size (mm/mil)

0.15/6

Trace & Space(mm)

0.075/0.075

Impedance Control

+/- 10%

Surface Finish

Electrolytic Nickel Hard Gold

E-less Nickel Immersion Gold

Materials

Inventory Complete

 

Contact : James Zhang

Cell : 86 1866261176

Mail : jameszhang@sinowintech.com.cn

2025年7月11日 19:50
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