盛华推出晶圆测试用集成TCM的CIS Probe Card探针卡

盛华推出晶圆测试用集成TCM的CIS Probe Card探针卡

近期,技术先进的探针卡品牌商盛华公司,全新推出集成TCM 的CIS Probe Card探针卡.

基于盛华公司持续创新的理念,全面服务客户的产品功能需求,创新性的推出集成TCM模块的CIS Probe Card 探针卡. 该技术使用在CIS 晶圆高温测试中,探测区8英寸内温差控制到+/-10%范围内,减少温针工序和时间,并能有效稳定OUT wafer和IN wafer区内的温差.该技术也使用在低温测试中,有效防止Frost现象, 为CIS和各类晶圆测试的高温,低温测试工序中, 提供理想的测试环境,有效降低测试成本.

想了解更多有关 的产品信息，请与我们联系。

Cell:18662611766(微信同号)

Mail:Jameszhang@sinowintech.com.cn

Mail:Carriexia@sinowintech.com.cn

关于盛华

盛华探针卡是从事晶圆测试探针卡的研发、设计、制造和销售的技术企业. 自成立以来，盛华始终专注于高端、高速 、高同测晶圆探针卡的创新与研发，凭借技术优势得到了众多客户的认可和青睐。公司产品已覆盖了CIS、SOC、Memory、DDIC等多品类中高阶晶圆测试领域的全性能需求。盛华秉持以客户需求为导向，持续推动创新,不断提供客户最佳性价比的产品和服务.