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专注于晶圆测试探针卡研发制造
高同测 高速 高频 测试探针卡
High Parallel High Speed High Frequency Probe Cards
Pitch
0.15mm,0.2mm, 0.25mm, 0.30mm, 0.35mm, 0.40mm
Material
Pd/Ag/Cu 、BeCu,、Hard Carbonsteel.etc.