—— 晶圆测试战略协作伙伴 ！ ——
专注于晶圆测试探针卡研发制造
高同测 高速 高频 测试探针卡
High Parallel High Speed High Frequency Probe Cards
适用于:
Canti-CPC Point/Round/Flat Tip
Vertical-VPC Point/Flat Tip
MEMS-Ms VPC Point/Flat Tip
Spring-Vs VPC Crown/Point/Flat tip
Cleaning PAD尺寸有:
Sheet：120mm×140mm、160mm×160mm、215mm×280mm、 300mm×300mm
Disc ： Ø50mm、Ø 203mm、Ø 300mm
