WAT 晶圆测试Probe Card探针卡

盛华推出晶圆测试WAT Probe Card探针卡

近期,技术先进的探针卡品牌商盛华公司,全新推出 WAT @SC 技术的WAT Probe Card 探针卡,在国内TOP3内的 FAB厂客户量产化.

基于盛华创新技术, 采用微型划痕控边等多项优势技术 , 具备小划痕,低漏电,高功率防护等多项性能优势 ,可广泛应用于Wafer FAB厂WAT测试.

想了解更多有关 的产品信息，请与我们联系。

关于盛华

盛华探针卡是从事晶圆测试探针卡的研发、设计、制造和销售的技术企业. 自成立以来，盛华始终专注于高端、高速 、高同测晶圆探针卡的创新与研发，凭借技术优势得到了众多客户的认可和青睐。公司产品已覆盖了CIS、SOC、Memory、DDIC等多品类中高阶晶圆测试领域的全性能需求。盛华秉持以客户需求为导向，持续推动创新,不断提供客户最佳性价比的产品和服务.